by
A. Merlone,
Francesca Sanna,
G. Beges,
S. Bell,
G. Beltramino,
J. Bojkovski,
M. Brunet,
D. del Campo,
A. Castrillo,
N. Chiodo,
M. Colli,
G. Coppa,
R. Cuccaro,
M. Dobre,
J. Drnovsek,
V. Ebert,
V. Fernicola,
A. Garcia-Benadí,
C. Garcia-Izquierdo,
T. Gardiner,
E. Georgin,
A. Gonzalez,
D. Groselj,
M. Heinonen,
S. Hernandez,
R. Högström,
D. Hudoklin,
M. Kalemci,
A. Kowal,
L. Lanza,
P. Miao,
C. Musacchio,
J. Nielsen,
M. Nogueras-Cervera,
S. Oguz Aytekin,
P. Pavlasek,
M. de Podesta,
M. K. Rasmussen,
J. del-Río-Fernández,
L. Rosso,
H. Sairanen,
J. Salminen,
D. Sestan,
L. Šindelářová,
D. Smorgon,
F. Sparasci,
R. Strnad,
R. Underwood,
A. Uytun,
M. Voldan
Published in
Measurement Science and Technology
(2018)
Contributors:
“... Campo, A. Castrillo, N. Chiodo, M. Colli, G. Coppa, R. Cuccaro, M. Dobre, J. Drnovsek, V. Ebert,
V...
”
Get access
Get access
Article in Journal/Newspaper