by
A. Merlone,
Francesca Sanna,
G. Beges,
S. Bell,
G. Beltramino,
J. Bojkovski,
M. Brunet,
D. del Campo,
A. Castrillo,
N. Chiodo,
M. Colli,
G. Coppa,
R. Cuccaro,
M. Dobre,
J. Drnovsek,
V. Ebert,
V. Fernicola,
A. Garcia-Benadí,
C. Garcia-Izquierdo,
T. Gardiner,
E. Georgin,
A. Gonzalez,
D. Groselj,
M. Heinonen,
S. Hernandez,
R. Högström,
D. Hudoklin,
M. Kalemci,
A. Kowal,
L. Lanza,
P. Miao,
C. Musacchio,
J. Nielsen,
M. Nogueras-Cervera,
S. Oguz Aytekin,
P. Pavlasek,
M. de Podesta,
M. K. Rasmussen,
J. del-Río-Fernández,
L. Rosso,
H. Sairanen,
J. Salminen,
D. Sestan,
L. Šindelářová,
D. Smorgon,
F. Sparasci,
R. Strnad,
R. Underwood,
A. Uytun,
M. Voldan
Published in
Measurement Science and Technology
(2018)
Contributors:
“...-Fernández, L. Rosso, H. Sairanen, J. Salminen, D. Sestan,
L.
Šindelářová, D. Smorgon, F. Sparasci, R. Strnad...
”
Get access
Get access
Article in Journal/Newspaper