-
1Contributors: “...Sanna F., L. Paro, L. Massano, G. Coppa, C. Musacchio, A. Merlone...”
Get access
Conference Object -
2Contributors: “...Pavlasek P., A. Merlone, F. Sanna, G. Coppa, S. Ďuriš, Z. Ďurišová, J. Palenčar...”
Get access
Conference Object -
3by A. Merlone, G. Coppa, C. Musacchio, A. Piccato, G. Lopardo, C. Garcia Izquierdo, Y. –.G. Kim, F. Sparasci, P. Thorne, J. Zhang, G. Strouse, E. Van der Ham, J. Tamba, T. Usuda, E. Ejigu, S. Bell, M. de Podesta, T. Gardiner, C. Monte, V. Ebert, P. Pavlacek, D. Groselj, M. Heinonen, M. Kalemci, G. Beges, J. Drnovsek, D. Hudoklin, J. Bojkovski, A. Castrillo, L. Lanza, A. Viola, V. Vitale, R. Emardson, R. Feistel, SANNA, FRANCESCAContributors: “...G. Coppa...”
Published 2016
Get access
Conference Object -
4by A. Merlone, Francesca Sanna, G. Beges, S. Bell, G. Beltramino, J. Bojkovski, M. Brunet, D. del Campo, A. Castrillo, N. Chiodo, M. Colli, G. Coppa, R. Cuccaro, M. Dobre, J. Drnovsek, V. Ebert, V. Fernicola, A. Garcia-Benadí, C. Garcia-Izquierdo, T. Gardiner, E. Georgin, A. Gonzalez, D. Groselj, M. Heinonen, S. Hernandez, R. Högström, D. Hudoklin, M. Kalemci, A. Kowal, L. Lanza, P. Miao, C. Musacchio, J. Nielsen, M. Nogueras-Cervera, S. Oguz Aytekin, P. Pavlasek, M. de Podesta, M. K. Rasmussen, J. del-Río-Fernández, L. Rosso, H. Sairanen, J. Salminen, D. Sestan, L. Šindelářová, D. Smorgon, F. Sparasci, R. Strnad, R. Underwood, A. Uytun, M. VoldanContributors: “... Campo, A. Castrillo, N. Chiodo, M. Colli, G. Coppa, R. Cuccaro, M. Dobre, J. Drnovsek, V. Ebert, V...”
Published in Measurement Science and Technology (2018)
Get access
Get access
Article in Journal/Newspaper -
5by A. Merlone, F. Sanna, G. Beges, S. Bell, G. Beltramino, J. Bojkovski, M. Brunet, D. del Campo, A. Castrillo, N. Chiodo, M. Colli, G. Coppa, R. Cuccaro, M. Dobre, J. Drnovsek, V. Ebert, V. Fernicola, A. Garcia-Benadí, C. Garcia-Izquierdo, T. Gardiner, E. Georgin, A. Gonzalez, D. Groselj, M. Heinonen, S. Hernandez, R. Högström, D. Hudoklin, M. Kalemci, A. Kowal, L. Lanza, P. Miao, C. Musacchio, J. Nielsen, M. Nogueras-Cervera, S. Oguz Aytekin, P. Pavlasek, M. de Podesta, M. K. Rasmussen, J. del-Río-Fernández, L. Rosso, H. Sairanen, J. Salminen, D. Sestan, L. Šindelářová, D. Smorgon, F. Sparasci, R. Strnad, R. Underwood, A. Uytun, M. VoldanGet access
Published in Measurement Science and Technology (2018)
Get access
Article in Journal/Newspaper