-
1by A. Merlone, Francesca Sanna, G. Beges, S. Bell, G. Beltramino, J. Bojkovski, M. Brunet, D. del Campo, A. Castrillo, N. Chiodo, M. Colli, G. Coppa, R. Cuccaro, M. Dobre, J. Drnovsek, V. Ebert, V. Fernicola, A. Garcia-Benadí, C. Garcia-Izquierdo, T. Gardiner, E. Georgin, A. Gonzalez, D. Groselj, M. Heinonen, S. Hernandez, R. Högström, D. Hudoklin, M. Kalemci, A. Kowal, L. Lanza, P. Miao, C. Musacchio, J. Nielsen, M. Nogueras-Cervera, S. Oguz Aytekin, P. Pavlasek, M. de Podesta, M. K. Rasmussen, J. del-Río-Fernández, L. Rosso, H. Sairanen, J. Salminen, D. Sestan, L. Šindelářová, D. Smorgon, F. Sparasci, R. Strnad, R. Underwood, A. Uytun, M. VoldanContributors: “.... Heinonen, S. Hernandez, R. Högström, D. Hudoklin, M. Kalemci, A. Kowal, L. Lanza, P. Miao, C. Musacchio, J...”
Published in Measurement Science and Technology (2018)
Get access
Get access
Article in Journal/Newspaper