蛍光X線分析装置による岩石の定量化学分析:(2)微量元素

国立極地研究所の蛍光X線分析装置(理学電機工業製, RIX3000)による岩石試料中の微量元素(Ba, Co, Cr, Cu, Nb, Ni, Rb, Sr, V, Y, Zn, Zr)の定量化学分析について, その分析条件, 補正法をまとめた。鉱物効果, 粒度効果, 偏析による分析誤差を防ぐために, 試料は, 融剤(Li_2B_4O_7)との希釈率を1 : 5(重量比)としたガラスビードにしてから測定した。スペクトルの重なり補正, X線管からの重元素の妨害補正, さらにpeak-over-back法によるマトリックス補正を行うことによって, 精度のよい分析結果が得られた。 Analytica...

Full description

Bibliographic Details
Main Authors: 本吉 洋一, 石塚 英男, 白石 和行, Yoichi Motoyoshi, Hideo Ishizuka, Kazuyuki Shiraishi
Format: Report
Language:Japanese
Published: 国立極地研究所 1996
Subjects:
Online Access:https://nipr.repo.nii.ac.jp/?action=repository_uri&item_id=8921
http://id.nii.ac.jp/1291/00008921/
https://nipr.repo.nii.ac.jp/?action=repository_action_common_download&item_id=8921&item_no=1&attribute_id=18&file_no=1
Description
Summary:国立極地研究所の蛍光X線分析装置(理学電機工業製, RIX3000)による岩石試料中の微量元素(Ba, Co, Cr, Cu, Nb, Ni, Rb, Sr, V, Y, Zn, Zr)の定量化学分析について, その分析条件, 補正法をまとめた。鉱物効果, 粒度効果, 偏析による分析誤差を防ぐために, 試料は, 融剤(Li_2B_4O_7)との希釈率を1 : 5(重量比)としたガラスビードにしてから測定した。スペクトルの重なり補正, X線管からの重元素の妨害補正, さらにpeak-over-back法によるマトリックス補正を行うことによって, 精度のよい分析結果が得られた。 Analytical procedures for trace elements in rocks (Ba, Co, Cr, Cu, Nb, Ni, Rb, Sr, V, Y, Zn, Zr), using an X-ray fluorescence analyzer (RIGAKU RIX3000) at the National Institute of Polar Research, are summarized. Samples are fused with Li_2B_4o_7 (weight proportion of 1 : 5) to prepare glass bead in order to avoid analytical errors caused by mineralogical effect, grain size effect and segregation. The results were satisfied with correcting spectral line overlap, interference X-ray of heavy elements, and matrix effect by means of peak-over-back method.