Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos

XII Reunión Española de Optoelectrónica (OPTOEL), evento online, 30 de junio - 2 de julio de 2021. -- https://optoel2021.es/ A la hora de realizar medidas con calidad metrológica es muy importante caracterizar to-das las posibles fuentes de ruido, tanto las externas como las intrínsecas al sistema d...

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Bibliographic Details
Main Authors: Santafé, Pablo, Ferrero, Alejandro, Campos Acosta, Joaquín
Format: Conference Object
Language:unknown
Published: Sociedad Española de Óptica 2021
Subjects:
Online Access:http://hdl.handle.net/10261/249014