Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos
XII Reunión Española de Optoelectrónica (OPTOEL), evento online, 30 de junio - 2 de julio de 2021. -- https://optoel2021.es/ A la hora de realizar medidas con calidad metrológica es muy importante caracterizar to-das las posibles fuentes de ruido, tanto las externas como las intrínsecas al sistema d...
Main Authors: | , , |
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Format: | Conference Object |
Language: | unknown |
Published: |
Sociedad Española de Óptica
2021
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Subjects: | |
Online Access: | http://hdl.handle.net/10261/249014 |