Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos

XII Reunión Española de Optoelectrónica (OPTOEL), evento online, 30 de junio - 2 de julio de 2021. -- https://optoel2021.es/ A la hora de realizar medidas con calidad metrológica es muy importante caracterizar to-das las posibles fuentes de ruido, tanto las externas como las intrínsecas al sistema d...

Full description

Bibliographic Details
Main Authors: Santafé, Pablo, Ferrero, Alejandro, Campos Acosta, Joaquín
Format: Conference Object
Language:unknown
Published: Sociedad Española de Óptica 2021
Subjects:
Online Access:http://hdl.handle.net/10261/249014
Description
Summary:XII Reunión Española de Optoelectrónica (OPTOEL), evento online, 30 de junio - 2 de julio de 2021. -- https://optoel2021.es/ A la hora de realizar medidas con calidad metrológica es muy importante caracterizar to-das las posibles fuentes de ruido, tanto las externas como las intrínsecas al sistema de medida. En este trabajo se han caracterizado las fuentes de ruido intrínsecas a una cámara digital con un sensor CMOS (Hamamatsu ORCA-Flash4.0 V3), la cual va a ser utilizada como sistema de detección en medidas trazables de la función de distribución de espar-cimiento y reflectancia superficial bidireccionales (BSSRDF). Se han estimado el ruido de lectura, el factor de conversión entre cuentas y electrones, la linealidad de la respuesta y la tasa de electrones generados térmicamente en el sensor. Además, se han identificado los píxeles que presentan un comportamiento anómalo.