Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos

XII Reunión Española de Optoelectrónica (OPTOEL), evento online, 30 de junio - 2 de julio de 2021. -- https://optoel2021.es/ A la hora de realizar medidas con calidad metrológica es muy importante caracterizar to-das las posibles fuentes de ruido, tanto las externas como las intrínsecas al sistema d...

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Main Authors: Santafé, Pablo, Ferrero, Alejandro, Campos Acosta, Joaquín
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Published: Sociedad Española de Óptica 2021
Subjects:
Online Access:http://hdl.handle.net/10261/249014
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spelling ftcsic:oai:digital.csic.es:10261/249014 2024-02-11T10:07:42+01:00 Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos Santafé, Pablo Ferrero, Alejandro Campos Acosta, Joaquín 2021-06-30 http://hdl.handle.net/10261/249014 unknown Sociedad Española de Óptica Sí XII Reunión Española de Optoelectrónica (2021) http://hdl.handle.net/10261/249014 open CMOS Readout noise Linearity Dark current Bad pixels Irradiance Matrix detector actas de congreso http://purl.org/coar/resource_type/c_f744 2021 ftcsic 2024-01-16T11:12:48Z XII Reunión Española de Optoelectrónica (OPTOEL), evento online, 30 de junio - 2 de julio de 2021. -- https://optoel2021.es/ A la hora de realizar medidas con calidad metrológica es muy importante caracterizar to-das las posibles fuentes de ruido, tanto las externas como las intrínsecas al sistema de medida. En este trabajo se han caracterizado las fuentes de ruido intrínsecas a una cámara digital con un sensor CMOS (Hamamatsu ORCA-Flash4.0 V3), la cual va a ser utilizada como sistema de detección en medidas trazables de la función de distribución de espar-cimiento y reflectancia superficial bidireccionales (BSSRDF). Se han estimado el ruido de lectura, el factor de conversión entre cuentas y electrones, la linealidad de la respuesta y la tasa de electrones generados térmicamente en el sensor. Además, se han identificado los píxeles que presentan un comportamiento anómalo. Conference Object Orca Digital.CSIC (Spanish National Research Council) Española ENVELOPE(-60.383,-60.383,-62.660,-62.660) Hora ENVELOPE(15.744,15.744,67.445,67.445)
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Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos
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description XII Reunión Española de Optoelectrónica (OPTOEL), evento online, 30 de junio - 2 de julio de 2021. -- https://optoel2021.es/ A la hora de realizar medidas con calidad metrológica es muy importante caracterizar to-das las posibles fuentes de ruido, tanto las externas como las intrínsecas al sistema de medida. En este trabajo se han caracterizado las fuentes de ruido intrínsecas a una cámara digital con un sensor CMOS (Hamamatsu ORCA-Flash4.0 V3), la cual va a ser utilizada como sistema de detección en medidas trazables de la función de distribución de espar-cimiento y reflectancia superficial bidireccionales (BSSRDF). Se han estimado el ruido de lectura, el factor de conversión entre cuentas y electrones, la linealidad de la respuesta y la tasa de electrones generados térmicamente en el sensor. Además, se han identificado los píxeles que presentan un comportamiento anómalo.
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