Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos
XII Reunión Española de Optoelectrónica (OPTOEL), evento online, 30 de junio - 2 de julio de 2021. -- https://optoel2021.es/ A la hora de realizar medidas con calidad metrológica es muy importante caracterizar to-das las posibles fuentes de ruido, tanto las externas como las intrínsecas al sistema d...
Main Authors: | , , |
---|---|
Format: | Conference Object |
Language: | unknown |
Published: |
Sociedad Española de Óptica
2021
|
Subjects: | |
Online Access: | http://hdl.handle.net/10261/249014 |
id |
ftcsic:oai:digital.csic.es:10261/249014 |
---|---|
record_format |
openpolar |
spelling |
ftcsic:oai:digital.csic.es:10261/249014 2024-02-11T10:07:42+01:00 Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos Santafé, Pablo Ferrero, Alejandro Campos Acosta, Joaquín 2021-06-30 http://hdl.handle.net/10261/249014 unknown Sociedad Española de Óptica Sí XII Reunión Española de Optoelectrónica (2021) http://hdl.handle.net/10261/249014 open CMOS Readout noise Linearity Dark current Bad pixels Irradiance Matrix detector actas de congreso http://purl.org/coar/resource_type/c_f744 2021 ftcsic 2024-01-16T11:12:48Z XII Reunión Española de Optoelectrónica (OPTOEL), evento online, 30 de junio - 2 de julio de 2021. -- https://optoel2021.es/ A la hora de realizar medidas con calidad metrológica es muy importante caracterizar to-das las posibles fuentes de ruido, tanto las externas como las intrínsecas al sistema de medida. En este trabajo se han caracterizado las fuentes de ruido intrínsecas a una cámara digital con un sensor CMOS (Hamamatsu ORCA-Flash4.0 V3), la cual va a ser utilizada como sistema de detección en medidas trazables de la función de distribución de espar-cimiento y reflectancia superficial bidireccionales (BSSRDF). Se han estimado el ruido de lectura, el factor de conversión entre cuentas y electrones, la linealidad de la respuesta y la tasa de electrones generados térmicamente en el sensor. Además, se han identificado los píxeles que presentan un comportamiento anómalo. Conference Object Orca Digital.CSIC (Spanish National Research Council) Española ENVELOPE(-60.383,-60.383,-62.660,-62.660) Hora ENVELOPE(15.744,15.744,67.445,67.445) |
institution |
Open Polar |
collection |
Digital.CSIC (Spanish National Research Council) |
op_collection_id |
ftcsic |
language |
unknown |
topic |
CMOS Readout noise Linearity Dark current Bad pixels Irradiance Matrix detector |
spellingShingle |
CMOS Readout noise Linearity Dark current Bad pixels Irradiance Matrix detector Santafé, Pablo Ferrero, Alejandro Campos Acosta, Joaquín Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos |
topic_facet |
CMOS Readout noise Linearity Dark current Bad pixels Irradiance Matrix detector |
description |
XII Reunión Española de Optoelectrónica (OPTOEL), evento online, 30 de junio - 2 de julio de 2021. -- https://optoel2021.es/ A la hora de realizar medidas con calidad metrológica es muy importante caracterizar to-das las posibles fuentes de ruido, tanto las externas como las intrínsecas al sistema de medida. En este trabajo se han caracterizado las fuentes de ruido intrínsecas a una cámara digital con un sensor CMOS (Hamamatsu ORCA-Flash4.0 V3), la cual va a ser utilizada como sistema de detección en medidas trazables de la función de distribución de espar-cimiento y reflectancia superficial bidireccionales (BSSRDF). Se han estimado el ruido de lectura, el factor de conversión entre cuentas y electrones, la linealidad de la respuesta y la tasa de electrones generados térmicamente en el sensor. Además, se han identificado los píxeles que presentan un comportamiento anómalo. |
format |
Conference Object |
author |
Santafé, Pablo Ferrero, Alejandro Campos Acosta, Joaquín |
author_facet |
Santafé, Pablo Ferrero, Alejandro Campos Acosta, Joaquín |
author_sort |
Santafé, Pablo |
title |
Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos |
title_short |
Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos |
title_full |
Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos |
title_fullStr |
Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos |
title_full_unstemmed |
Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos |
title_sort |
caracterización radiométrica de una cámara cmos para medidas de reflectancia de materiales translúcidos |
publisher |
Sociedad Española de Óptica |
publishDate |
2021 |
url |
http://hdl.handle.net/10261/249014 |
long_lat |
ENVELOPE(-60.383,-60.383,-62.660,-62.660) ENVELOPE(15.744,15.744,67.445,67.445) |
geographic |
Española Hora |
geographic_facet |
Española Hora |
genre |
Orca |
genre_facet |
Orca |
op_relation |
Sí XII Reunión Española de Optoelectrónica (2021) http://hdl.handle.net/10261/249014 |
op_rights |
open |
_version_ |
1790606379168301056 |