Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos

XII Reunión Española de Optoelectrónica (OPTOEL), evento online, 30 de junio - 2 de julio de 2021. -- https://optoel2021.es/ A la hora de realizar medidas con calidad metrológica es muy importante caracterizar to-das las posibles fuentes de ruido, tanto las externas como las intrínsecas al sistema d...

Full description

Bibliographic Details
Main Authors: Santafé, Pablo, Ferrero, Alejandro, Campos Acosta, Joaquín
Format: Conference Object
Language:unknown
Published: Sociedad Española de Óptica 2021
Subjects:
Online Access:http://hdl.handle.net/10261/249014
_version_ 1821677806760755200
author Santafé, Pablo
Ferrero, Alejandro
Campos Acosta, Joaquín
author_facet Santafé, Pablo
Ferrero, Alejandro
Campos Acosta, Joaquín
author_sort Santafé, Pablo
collection Digital.CSIC (Spanish National Research Council)
description XII Reunión Española de Optoelectrónica (OPTOEL), evento online, 30 de junio - 2 de julio de 2021. -- https://optoel2021.es/ A la hora de realizar medidas con calidad metrológica es muy importante caracterizar to-das las posibles fuentes de ruido, tanto las externas como las intrínsecas al sistema de medida. En este trabajo se han caracterizado las fuentes de ruido intrínsecas a una cámara digital con un sensor CMOS (Hamamatsu ORCA-Flash4.0 V3), la cual va a ser utilizada como sistema de detección en medidas trazables de la función de distribución de espar-cimiento y reflectancia superficial bidireccionales (BSSRDF). Se han estimado el ruido de lectura, el factor de conversión entre cuentas y electrones, la linealidad de la respuesta y la tasa de electrones generados térmicamente en el sensor. Además, se han identificado los píxeles que presentan un comportamiento anómalo.
format Conference Object
genre Orca
genre_facet Orca
geographic Hora
Española
geographic_facet Hora
Española
id ftcsic:oai:digital.csic.es:10261/249014
institution Open Polar
language unknown
long_lat ENVELOPE(15.744,15.744,67.445,67.445)
ENVELOPE(-60.383,-60.383,-62.660,-62.660)
op_collection_id ftcsic
op_relation
XII Reunión Española de Optoelectrónica (2021)
http://hdl.handle.net/10261/249014
op_rights open
publishDate 2021
publisher Sociedad Española de Óptica
record_format openpolar
spelling ftcsic:oai:digital.csic.es:10261/249014 2025-01-17T00:10:04+00:00 Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos Santafé, Pablo Ferrero, Alejandro Campos Acosta, Joaquín 2021-06-30 http://hdl.handle.net/10261/249014 unknown Sociedad Española de Óptica Sí XII Reunión Española de Optoelectrónica (2021) http://hdl.handle.net/10261/249014 open CMOS Readout noise Linearity Dark current Bad pixels Irradiance Matrix detector actas de congreso http://purl.org/coar/resource_type/c_f744 2021 ftcsic 2024-01-16T11:12:48Z XII Reunión Española de Optoelectrónica (OPTOEL), evento online, 30 de junio - 2 de julio de 2021. -- https://optoel2021.es/ A la hora de realizar medidas con calidad metrológica es muy importante caracterizar to-das las posibles fuentes de ruido, tanto las externas como las intrínsecas al sistema de medida. En este trabajo se han caracterizado las fuentes de ruido intrínsecas a una cámara digital con un sensor CMOS (Hamamatsu ORCA-Flash4.0 V3), la cual va a ser utilizada como sistema de detección en medidas trazables de la función de distribución de espar-cimiento y reflectancia superficial bidireccionales (BSSRDF). Se han estimado el ruido de lectura, el factor de conversión entre cuentas y electrones, la linealidad de la respuesta y la tasa de electrones generados térmicamente en el sensor. Además, se han identificado los píxeles que presentan un comportamiento anómalo. Conference Object Orca Digital.CSIC (Spanish National Research Council) Hora ENVELOPE(15.744,15.744,67.445,67.445) Española ENVELOPE(-60.383,-60.383,-62.660,-62.660)
spellingShingle CMOS
Readout noise
Linearity
Dark current
Bad pixels
Irradiance
Matrix detector
Santafé, Pablo
Ferrero, Alejandro
Campos Acosta, Joaquín
Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos
title Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos
title_full Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos
title_fullStr Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos
title_full_unstemmed Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos
title_short Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidos
title_sort caracterización radiométrica de una cámara cmos para medidas de reflectancia de materiales translúcidos
topic CMOS
Readout noise
Linearity
Dark current
Bad pixels
Irradiance
Matrix detector
topic_facet CMOS
Readout noise
Linearity
Dark current
Bad pixels
Irradiance
Matrix detector
url http://hdl.handle.net/10261/249014