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1by Dobbs, M. A., Lueker, M., Aird, K. A., Bender, A. N., Benson, B. A., Bleem, L. E., Carlstrom, J. E., Chang, C. L., Cho, H.-M., Clarke, J., Crawford, T. M., Crites, A. T., Flanigan, D. I., de Haan, T., George, E. M., Halverson, N. W., Holzapfel, W. L., Hrubes, J. D., Johnson, B. R., Joseph, J., Keisler, R., Kennedy, J., Kermish, Z., Lanting, T. M., Lee, A. T., Leitch, E. M., Luong-Van, D., McMahon, J. J., Mehl, J., Meyer, S. S., Montroy, T. E., Padin, S., Plagge, T., Pryke, C., Richards, P. L., Ruhl, J. E., Schaffer, K. K., Schwan, D., Shirokoff, E., Spieler, H. G., Staniszewski, Z., Stark, A. A., Vanderlinde, K., Vieira, J. D., Vu, C., Westbrook, B., Williamson, R.Get access
Published in Review of Scientific Instruments (2012)
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