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1by Cardellach E., Wickert J., Baggen R., Benito J., Camps A., Catarino N., Chapron B., Dielacher A., Fabra F., Flato G., Fragner H., Gabarro C., Gommenginger C., Haas C., Healy S., Hernandez-Pajares M., Hoeg P., Jaggi A., Kainulainen J., Khan S. A., Lemke N. M. K., Li W., Nghiem S. V., Pierdicca N., Portabella M., Rautiainen K., Rius A., Sasgen I., Semmling M., Shum C. K., Soulat F., Steiner A. K., Tailhades S., Thomas M., Vilaseca R., Zuffada C.Get access
Published in IEEE Access (2018)
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