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5by Padin, S., Staniszewski, Z., Keisler, R., Joy, M., Stark, A. A., Ade, Peter A. R., Aird, K. A., Benson, B. A., Bleem, L. E., Carlstrom, J. E., Chang, C. L., Crawford, T. M., Crites, A. T., Dobbs, M. A., Halverson, N. W., Heimsath, S., Hills, R. E., Holzapfel, W. L., Lawrie, C., Lee, A. T., Leitch, E. M., Leong, J., Lu, W., Lueker, M., McMahon, J. J., Meyer, S. S., Mohr, J. J., Montroy, T. E., Plagge, T., Pryke, C., Ruhl, J. E., Schaffer, K. K., Shirokoff, E., Spieler, H. G., Vieira, J. D.Get access
Published in Applied Optics (2008)
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